文献層: 工業用光学センシング(厳選)
何のコーパスか: 断層撮像、間接飛行時間、色収差共焦点、反射面形状、モアレ、分光画像、光学公差を集めたコーパス。
Fullseye でなぜ要るか: 工業計測の像を物理モデルから作り、厚さ、距離、傾き、変位、材質の推定を真値と比較するために使う。
来歴: OpenAlex から取得した論文メタデータの主題側 718 本(分野違い・重複を落とした後)を、取得クエリの軸 7 クラスタで持つ生のコーパス(LLM による階層化・要約はしていない、2026-10-15)。この層は人が厳選した層で、軸ごとの概観は人が抄録を読んで自分の言葉で書いたもの、論文は古典と 2020 年以降の有用なものを手で選んだもの(目録 docs/literature/curated/industrial_optical_sensing.json)。載せるのは題名・著者・年・DOI だけ(メタデータは CC0。抄録は出版社の権利なので写さない —— 目録の手書き文はコーパスの全抄録と 8 語の並びで突き合わせ、一致があれば生成を止める)。軸の本数は語彙で当たった本数で、2 軸以上に当たる文献は両方で数える。
使い方(op に落とす): 各軸の「使う op」は目録に人が書いた対応で、op 名は生成時に出荷ノート 3,623 本の一覧と突き合わせる(無ければ止まる)。op の後ろはなぜ使うかと型。「Fullseye に無いもの」は op に落ちていない部分を正直に書いたもの。読む順: 話題 → 軸の概観 → 使う op → op ノート(型の契約・実行できる例)→ 厳選した文献。末尾の「op → クラスタ」で逆に引ける。
目次
T1 工業用OCT
124 本(この軸の語彙で当たった本数)
低コヒーレンス干渉の深さ応答から、内部境界と層厚を非破壊で求める。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- David Huang et al. (1991). Optical Coherence Tomography. 10.1126/science.1957169 —— 断層撮像の原理を確認する
- Juan F. Granada et al. (2010). Development of a Novel Prohealing Stent Designed to Deliver Sirolimus From a Biodegradable Abluminal Matrix. 10.1161/circinterventions.109.919936 —— 層状材料評価の応用例を確認する
- Ireneusz Grulkowski et al. (2013). High-precision, high-accuracy ultralong-range swept-source optical coherence tomography using vertical cavity surface emitting laser light source. 10.1364/ol.38.000673 —— 長距離での精度確保を確認する
- Rong Su et al. (2014). Perspectives of mid-infrared optical coherence tomography for inspection and micrometrology of industrial ceramics. 10.1364/oe.22.015804 —— 中赤外域の工業検査を確認する
- — (2014). Handbook of Optical Sensors. 10.1201/b17641 —— 光学センサの体系で位置づける
- Zhao Wang et al. (2016). Cubic meter volume optical coherence tomography. 10.1364/optica.3.001496 —— 大体積への拡張を確認する
T2 間接ToF
117 本(この軸の語彙で当たった本数)
変調光の位相から距離を求め、多周波、混合画素、複数経路、周期誤差を補正する。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- Michael J. Connelly (2001). Wideband semiconductor optical amplifier steady-state numerical model. 10.1109/3.910455 —— 広帯域光源の数値モデルを確認する
- Yuan Xu et al. (2003). Effects of acoustic heterogeneity in breast thermoacoustic tomography. 10.1109/tuffc.2003.1235325 —— 伝搬の不均質による誤差例を確認する
- David Stoppa et al. (2007). A CMOS 3-D Imager Based on Single Photon Avalanche Diode. 10.1109/tcsi.2006.888679 —— 単一光子方式の三次元撮像を確認する
- Stefan May et al. (2009). Three‐dimensional mapping with time‐of‐flight cameras. 10.1002/rob.20321 —— 飛行時間カメラによる地図化を確認する
- Filiberto Chiabrando et al. (2009). Sensors for 3D Imaging: Metric Evaluation and Calibration of a CCD/CMOS Time-of-Flight Camera. 10.3390/s91210080 —— 距離カメラの評価と較正を確認する
- Joseph C. Jackson et al. (2013). Time-of-flight measurement techniques for airborne ultrasonic ranging. 10.1109/tuffc.2013.2570 —— 飛行時間測定法を比較する
T3 クロマティック共焦点
81 本(この軸の語彙で当たった本数)
波長ごとに焦点位置が異なる光学系を使い、戻りスペクトルのピークから高さや厚さを求める。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- Hans J. Tiziani et al. (1994). Three-dimensional image sensing by chromatic confocal microscopy. 10.1364/ao.33.001838 —— 三次元色収差共焦点の原理を確認する
- Sarah L. Dobson et al. (1997). Diffractive lenses for chromatic confocal imaging. 10.1364/ao.36.004744 —— 回折レンズによる色分散を確認する
- Sungdo Cha et al. (2000). Nontranslational three-dimensional profilometry by chromatic confocal microscopy with dynamically configurable micromirror scanning. 10.1364/ao.39.002605 —— 機械移動なしの形状測定を確認する
- Kebin Shi et al. (2004). Chromatic confocal microscopy using supercontinuum light. 10.1364/opex.12.002096 —— 広帯域光源の利用を確認する
- Byung Seon Chun et al. (2009). Three-dimensional surface profile measurement using a beam scanning chromatic confocal microscope. 10.1063/1.3184023 —— 走査式の表面形状測定を確認する
- Antonı́n Mikš et al. (2010). Analysis of method for measuring thickness of plane-parallel plates and lenses using chromatic confocal sensor. 10.1364/ao.49.003259 —— 平行板とレンズの厚さ測定を確認する
T4 デフレクトメトリ
126 本(この軸の語彙で当たった本数)
既知の画面模様が鏡面でどう曲がるかを位相として測り、面の傾きと形状を復元する。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- Markus C. Knauer et al. (2004). Phase measuring deflectometry: a new approach to measure specular free-form surfaces. 10.1117/12.545704 —— 位相測定による反射面計測を確認する
- Yan Dong Tang et al. (2008). 3D shape measurement of the aspheric mirror by advanced phase measuring deflectometry. 10.1364/oe.16.015090 —— 非球面鏡の形状測定を確認する
- Peng Su et al. (2010). Software configurable optical test system: a computerized reverse Hartmann test. 10.1364/ao.49.004404 —— 逆ハルトマン試験を確認する
- Peng Su et al. (2012). Non-null full field X-ray mirror metrology using SCOTS: a reflection deflectometry approach. 10.1364/oe.20.012393 —— 大型反射面への適用を確認する
- Lei Huang et al. (2016). Modal phase measuring deflectometry. 10.1364/oe.24.024649 —— モード表現による復元を確認する
- Yongjia Xu et al. (2020). A brief review of the technological advancements of phase measuring deflectometry. 10.1186/s43074-020-00015-9 —— 技術の進展を総覧する
T5 モアレによる位置合わせと変位
79 本(この軸の語彙で当たった本数)
周期格子の重なりで生じる低周波縞を読み、微小な相対変位や倍率差を拡大して測る。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- Isaac Amidror et al. (1994). Spectral analysis and minimization of moire patterns in color separation. 10.1117/12.179355 —— 色分解時のモアレ抑制を確認する
- Bongtae Han et al. (1995). Thermal Deformation Analysis of Various Electronic Packaging Products by Moire´ and Microscopic Moire´ Interferometry. 10.1115/1.2792090 —— 熱変形計測への応用を確認する
- Xiaolan Chen et al. (1996). Interferometric lithography of sub-micrometer sparse hole arrays for field-emission display applications. 10.1116/1.588533 —— 周期配列の干渉露光を確認する
- Nianhua Li et al. (2006). Sub-20-nm Alignment in Nanoimprint Lithography Using Moiré Fringe. 10.1021/nl0603395 —— 微細加工の位置合わせを確認する
- Shaolin Zhou et al. (2008). Fourier-based analysis of moiré fringe patterns of superposed gratings in alignment of nanolithography. 10.1364/oe.16.007869 —— 縞の周波数解析を確認する
- Xiongtu Zhou et al. (2016). Fabrication of Large-Scale Microlens Arrays Based on Screen Printing for Integral Imaging 3D Display. 10.1021/acsami.6b08278 —— 周期微細構造の製作例を確認する
T6 ハイパースペクトル選別
65 本(この軸の語彙で当たった本数)
画素ごとの反射スペクトルから、外観だけでは見えない材質差、傷み、混入物を判定する。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- M. S. Kim et al. (2002). MULTISPECTRAL DETECTION OF FECAL CONTAMINATION ON APPLES BASED ON HYPERSPECTRAL IMAGERY: PART I. APPLICATION OF VISIBLE AND NEARINFRARED REFLECTANCE IMAGING. 10.13031/2013.11414 —— 表面汚染の分光検出を確認する
- Renfu Lu (2003). DETECTION OF BRUISES ON APPLES USING NEARINFRARED HYPERSPECTRAL IMAGING. 10.13031/2013.12941 —— 果実の打撲検出を確認する
- Gamal M. ElMasry et al. (2012). Principles and Applications of Hyperspectral Imaging in Quality Evaluation of Agro-Food Products: A Review. 10.1080/10408398.2010.543495 —— 食品品質評価の原理と応用を確認する
- Sergio Cubero et al. (2016). Automated Systems Based on Machine Vision for Inspecting Citrus Fruits from the Field to Postharvest—a Review. 10.1007/s11947-016-1767-1 —— 果実検査の自動化を確認する
- Zhihua Cui et al. (2021). A New Subspace Clustering Strategy for AI-Based Data Analysis in IoT System. 10.1109/jiot.2021.3056578 —— 多変量データのクラスタリング例を確認する
- Billy Graham Ram et al. (2024). A systematic review of hyperspectral imaging in precision agriculture: Analysis of its current state and future prospects. 10.1016/j.compag.2024.109037 —— 近年の農業応用を整理する
T7 光学図面と公差
140 本(この軸の語彙で当たった本数)
設計値から製造公差を割り当て、感度、補償、標本計算を使って性能分布を評価する。
使う op(目録の対応。ノートで型と例を確かめてから使う):
厳選した文献(6 本、古い順)
- 題名・著者・年・DOI と、読む理由:
- Jeffrey M. Gordon (2010). Aplanatic optics for solar concentration. 10.1364/oe.18.000a41 —— 無収差集光系の理論を確認する
- John M. Tamkin et al. (2010). Theory of modulation transfer function artifacts due to mid-spatial-frequency errors and its application to optical tolerancing. 10.1364/ao.49.004825 —— 中間空間周波数誤差の性能影響を確認する
- Hyuk‐Jun Kwon et al. (2011). Mechanically and optically reliable folding structure with a hyperelastic material for seamless foldable displays. 10.1063/1.3576906 —— 機械構造と光学信頼性の関係を確認する
- Katie Shanks et al. (2016). Optics for concentrating photovoltaics: Trends, limits and opportunities for materials and design. 10.1016/j.rser.2016.01.089 —— 集光光学の設計限界を確認する
- Lidong Wei et al. (2018). Design and fabrication of a compact off-axis see-through head-mounted display using a freeform surface. 10.1364/oe.26.008550 —— 自由曲面光学系の設計製造例を確認する
- Qing Yu et al. (2018). Method of thickness measurement for transparent specimens with chromatic confocal microscopy. 10.1364/ao.57.009722 —— 透明体厚さ測定を確認する
op → クラスタ(逆引き)
この層で「使う op」に挙がった op と、それが出た軸。op から「どの知識の文脈で使うか」を引く。